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杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 半導(dǎo)體測試系統(tǒng)|高性能PXIe板卡、機(jī)箱|BMS/CAF測試系統(tǒng)|GTFY可編程測軟件
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杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司是一家專注于高性能半導(dǎo)體/電子測試系統(tǒng)的研發(fā)、制造、銷售和服務(wù)的高科技企業(yè)。公司由半導(dǎo)體測量技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)創(chuàng)立,具有豐富的半導(dǎo)體測試技術(shù)及產(chǎn)業(yè)化經(jīng)驗(yàn)。團(tuán)隊(duì)掌握產(chǎn)品核心技術(shù),擁有先進(jìn)的電子、通信與軟件技術(shù),涵蓋精密源表、高速通信、精密測量、光電技術(shù)、功率電路、嵌入式程序設(shè)計(jì)、計(jì)算機(jī)程序設(shè)計(jì)等眾多領(lǐng)域。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司公司簡介

福建GEN3測試系統(tǒng) 杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)

2024-09-03 09:08:13

中國的航空航天技術(shù)已經(jīng)取得舉世矚目的成就,航空航天領(lǐng)域?qū)﹄娮赢a(chǎn)品的性能要求遠(yuǎn)高于其他工業(yè)產(chǎn)品。其中也包含了PCB板的CAF測試,主要體現(xiàn)在以下幾個方面:首先,CAF測試是航空航天PCB設(shè)計(jì)和制造過程中的重要環(huán)節(jié)。通過CAF測試,可以驗(yàn)證PCB設(shè)計(jì)的合理性,確保其在各種極端環(huán)境下的絕緣性能和可靠性滿足要求。同時,CAF測試還可以幫助制造商優(yōu)化生產(chǎn)工藝,提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。其次,CAF測試是航空航天設(shè)備維護(hù)和檢修的重要手段。在設(shè)備運(yùn)行過程中,由于環(huán)境因素和電氣應(yīng)力的影響,PCB的絕緣性能可能會逐漸下降。通過定期進(jìn)行CAF測試,可以及時發(fā)現(xiàn)潛在的絕緣問題,避免設(shè)備故障的發(fā)生,保障飛行**。此外,CAF測試還可以用于評估航空航天設(shè)備的壽命和可靠性。通過對比不同批次、不同使用時間PCB的CAF測試結(jié)果,可以預(yù)測設(shè)備的剩余壽命和可靠性水平,為設(shè)備的維修和更換提供科學(xué)依據(jù)。導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)兼容多種操作系統(tǒng),滿足不同企業(yè)需求。福建GEN3測試系統(tǒng)

導(dǎo)電陽極絲測試(CAF測試)設(shè)備表現(xiàn)出下面這些技術(shù)特點(diǎn)。軟件設(shè)計(jì):CAF測試設(shè)備通常配備簡單明了的軟件設(shè)計(jì),能夠非常直觀地操作,并具備過程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。高性能:每個通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測電路,可以實(shí)現(xiàn)高達(dá)16ms的計(jì)測間隔,提高了遷移現(xiàn)象的檢測能力,對產(chǎn)品品質(zhì)把控更為精確。同時,一臺電腦允許增設(shè)400通道,滿足大規(guī)模測試需求。高信賴性:試驗(yàn)條件和數(shù)據(jù)可以存儲到CF存儲卡里,相比PC和HDD,CF存儲卡具有更高的信賴性。此外,系統(tǒng)還配備UPS作為備份,確保在瞬間停電或設(shè)定時間內(nèi)的停電情況下,試驗(yàn)仍能繼續(xù)進(jìn)行。高便利性:CAF測試設(shè)備的主構(gòu)成組合(CPU/計(jì)測/電源)采用slot-in構(gòu)造,方便進(jìn)行保養(yǎng)和更換。主機(jī)體積小巧,便于放置和移動。靈活的系統(tǒng)構(gòu)成:用戶可以根據(jù)需求選擇不同通道數(shù)的系統(tǒng)構(gòu)成,并可方便地增加Channel數(shù)。使用一臺PC理論上可以同時操作系統(tǒng)400CH,還支持ECM-100/100和ECM-100/40的同時操作。上海絕緣電阻測試系統(tǒng)參考價PCB測試系統(tǒng)兼容多種測試標(biāo)準(zhǔn),滿足不同客戶需求。

CAF(ConductiveAnodicFilament,導(dǎo)電陽極絲)是一種可能發(fā)生在航空航天電子設(shè)備PCB(印刷電路板)中的故障形式。這種故障主要源于航空航天電子設(shè)備長期暴露在自然環(huán)境下,電路板中銅箔表面上的有機(jī)污染物和濕度等因素誘導(dǎo)發(fā)生某些物理或者化學(xué)變化,可能導(dǎo)致電路板短路,從而影響設(shè)備的正常運(yùn)行。CAF的生長需要滿足以下幾個條件:基材內(nèi)存在間隙,提供離子運(yùn)動的通道。有水分存在,提供離子化的環(huán)境媒介。有金屬離子物質(zhì)存在,提供導(dǎo)電介質(zhì)。導(dǎo)體間存在電勢差,提供離子運(yùn)動的動力。在航空航天電子設(shè)備中,由于工作環(huán)境復(fù)雜多變,這些條件可能更容易被滿足,因此CAF的風(fēng)險(xiǎn)相對較高。

CAF現(xiàn)象(導(dǎo)電陽極絲現(xiàn)象)是指在某些特定條件下,PCB板上的金屬離子通過絕緣層遷移,形成類似導(dǎo)體的陽極絲,從而導(dǎo)致電路短路或失效。CAF測試(導(dǎo)電陽極絲測試)是一種用于評估印制電路板(PCB)在特定環(huán)境條件下,特別是在高溫高濕環(huán)境下,抵抗CAF現(xiàn)象(導(dǎo)電陽極絲生長)的能力的測試方法。CAF測試通過模擬這些極端環(huán)境,加速CAF現(xiàn)象的發(fā)生,從而評估PCB板的可靠性和穩(wěn)定性。在CAF測試中,通常會在PCB板的正負(fù)極之間施加一定的電壓,并在特定的環(huán)境條件下(如高溫高濕)進(jìn)行長時間的老化測試。測試過程中,通過監(jiān)測PCB板的絕緣電阻變化,可以判斷是否有CAF現(xiàn)象發(fā)生。如果絕緣電阻急劇下降,則表明發(fā)生了CAF現(xiàn)象,測試系統(tǒng)將記錄詳細(xì)數(shù)據(jù)并觸發(fā)報(bào)警裝置。CAF測試系統(tǒng)具備高精度測量功能,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

CAF(ConductiveAnodicFilament)導(dǎo)電陽極絲測試設(shè)備是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,主要用于評估印制線路板(PCB板)內(nèi)部在電場作用下,跨越非金屬基材遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移(CAF)現(xiàn)象。該測試通過給予印刷電路板一固定的直流電壓(BIASVOLTAGE),并經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時),觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(IONMIGRATION),并記錄電阻值變化狀況。因此,它也被稱為絕緣劣化試驗(yàn)、絕緣阻力電阻試驗(yàn),或OPEN/SHORT試驗(yàn)。PCB可靠性測試系統(tǒng)確保電路板在各種環(huán)境下的穩(wěn)定性能。福建GEN3測試系統(tǒng)

企業(yè)通過PCB可靠性測試系統(tǒng)提升產(chǎn)品競爭力,贏得市場信任。福建GEN3測試系統(tǒng)

眾所周知,航空航天對電子設(shè)備的性能和穩(wěn)定性要求高于普通民用產(chǎn)品。針對航空航天電子設(shè)備的CAF(導(dǎo)電陽極絲)風(fēng)險(xiǎn)評估,我們可以從以下幾個方面進(jìn)行詳細(xì)分析:1.材料選擇:評估PCB材料對CAF的抗性。選擇耐CAF的基材材料,如FR-4等,可以降低CAF發(fā)生的風(fēng)險(xiǎn)。2.制作工藝:評估PCB制作過程中的質(zhì)量控制。如鉆孔過程中可能導(dǎo)致的基材裂縫和樹脂與玻纖結(jié)合界面的裂縫,這些都可能提供CAF生長的通道。因此,優(yōu)化制作工藝,減少裂縫的產(chǎn)生,是降低CAF風(fēng)險(xiǎn)的重要措施。3.工作環(huán)境:評估設(shè)備的工作環(huán)境。航空航天電子設(shè)備通常需要在高溫、高濕、高電壓等惡劣環(huán)境下工作,這些條件都可能促進(jìn)CAF的生長。因此,在設(shè)計(jì)和制造過程中,需要充分考慮設(shè)備的工作環(huán)境,并采取相應(yīng)的防護(hù)措施。4.監(jiān)測與檢測:建立CAF監(jiān)測與檢測機(jī)制。通過定期檢測PCB的絕緣電阻等參數(shù),及時發(fā)現(xiàn)CAF問題并進(jìn)行處理。同時,引入電化學(xué)遷移測試等先進(jìn)技術(shù),對PCB的抗CAF能力進(jìn)行評估,為設(shè)備的設(shè)計(jì)和制造提供科學(xué)依據(jù)。福建GEN3測試系統(tǒng)

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